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失效阐发系统

通过微弱的光发射和热发射来定位半导体器件上失效缺陷位置的显微镜成像系统。

插手对比 共 4 件产物
产物图像 产物型号 产物名称
产物图像: 产物型号:C11222-16 产物名称:PHEMOS-1000 微光显微镜
产物图像: 产物型号:C10506-06-16 产物名称:iPHEMOS-MP倒置光发射显微镜
产物图像: 产物型号:C14229-01 产物名称:Thermal-F1 热发射显微镜
产物图像: 产物型号:C10506-05-16 产物名称:iPHEMOS-DD倒置光发射显微镜
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